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晶片掺杂B2H6气体泄漏怎样监测的

时间:2023-11-16  来源:气体检测报警仪  作者:赢润集团
作为半导体电子工业重要的特种气体之一,乙硼烷B2H6可用于半导体生产,硅和锗的外延生长、钝化、扩散和离子注入。通过控制B2H6乙硼烷的掺杂浓度和掺杂时间,可以实现对半导体材料的电性能调节,提高器件的性能和可靠性。但是由于乙硼烷B2H6具有较高的危险性,一旦发生泄漏危害极大,因此需要对其泄漏浓度进行监测,那么晶片掺杂B2H6气体泄漏怎样监测的呢?一般而言,可以通过在现场安装使用半导体特气乙硼烷浓度在线监测系统来持续监测泄漏积聚到空气中的乙硼烷B2H6气体的浓度值,以免发生安全事故。
晶片掺杂B2H6气体泄漏怎样监测的
晶片掺杂B2H6乙硼烷在半导体工业中主要应用于半导体材料的掺杂过程。B2H6乙硼烷是一种高纯度、高稳定性的掺杂气体,能够在半导体材料中引入硼元素。硼元素的掺杂可以改变半导体材料的电子结构,调节材料的导电性能和电子特性。在半导体工业中,B2H6乙硼烷广泛应用于制造各种类型的半导体器件,如晶体管、二极管和光电器件等。通过控制B2H6乙硼烷的掺杂浓度和掺杂时间,可以实现对半导体材料的电性能调节,提高器件的性能和可靠性。此外,B2H6乙硼烷还具有较高的热解速率和较低的表面吸附性能,使其在半导体工业中具有较高的应用价值和广泛的应用前景。

B2H6乙硼烷晶片掺杂的主要工艺流程包括气相外延生长、化学气相沉积、离子注入和光刻等步骤。首先,通过气相外延生长或化学气相沉积技术将SiCl4或SiHCl3等反应剂气体混合物转移到衬底表面,然后在高温条件下反应,形成单晶硅薄膜。接着,通过离子注入技术将掺杂物质注入到硅片表面或其它薄膜中,形成掺杂区域。最后,通过光刻技术将硅片表面涂覆光阻,并通过化学腐蚀等步骤形成微细的图形结构。这些工艺流程的优化和改进,有助于提高晶片的性能和稳定性。

半导体晶片掺杂电子特气乙硼烷B2H6气体泄漏的主要危害
1、对人体的危害
乙硼烷具有剧毒性,一旦泄露会迅速对人体造成伤害,包括头痛、恶心、呼吸困难等。长时间暴露在高浓度的乙硼烷中可能导致神经系统和肝脏损伤。
2、爆炸风险
乙硼烷是一种高度易燃的物质,在空气中极易燃烧,并且与许多有机物反应剧烈。因此,乙硼烷泄露可能会引发火灾或爆炸事故。
3、环境污染
乙硼烷泄漏后不仅会对室内空气质量造成严重污染,还可能对周边环境造成破坏,如水源、土壤等。
4、设备损坏
乙硼烷具有腐蚀性,如果泄露到设备上,可能会导致设备损坏。 综上所述,乙硼烷泄露的危害非常严重,需要采取有效的预防措施来防止泄露事故的发生。

以采用进口高精度气体传感器的ERUN-PG51B2固定在线式乙硼烷检测报警仪为例,可以同时检测并显示乙硼烷B2H6气体的浓度值,超标声光报警,并联锁自动控制排气风机的启停,测量数据结果可通过分线制4-20 mA模拟信号量或总线制RS 485(Modbus RTU)数字量信号以及无线模式传输,通过ERUN-PG36E气体报警控制器在值班室实时显示乙硼烷气体的浓度值,并相应的触发报警动作。

半导体特气乙硼烷浓度在线监测系统
半导体晶片掺杂电子特气乙硼烷B2H6气体泄漏检测报警仪技术参数
产品型号:ERUN-PG51B2
检测气体:乙硼烷B2H6
量程分辨率:
B2H6:0-10ppm、0.01ppm、进口高精度电化学原理传感器

B2H6:0-100%LEL、0.1%LEL、工业级催化燃烧原理传感器

B2H6:0-1ppm、0.001ppm、进口高精度电化学原理传感器
其他量程、原理、分辨率可订制
精度误差:≤±2%F.S.(更高精度可订制)
显示方式:报警器1.7寸彩屏现场显示浓度值;控制器主机9寸彩屏值班室显示浓度值
报警方式:现场声光报警,值班室声光报警
数据传输:4-20mA、RS485,可选无线传输
防护功能:IP65级防水防尘
防爆功能:隔爆型,Ex d ⅡC T6 Gb级防爆

以上就是关于晶片掺杂B2H6气体泄漏怎样监测的的相关介绍,乙硼烷具有较高的电离能和较低的电子亲和能,能够有效地提供载流子并降低缺陷浓度,从而提高半导体器件的性能。然而不可忽视的是,乙硼烷B2H6气体泄漏可能会引发的危害,因此需要对其挥发泄漏状况进行监测。而通过在现场安装使用半导体特气乙硼烷浓度在线监测系统就可以24小时连续不间断实时在线监测乙硼烷气体的泄漏浓度值,超标声光报警,并自动联锁控制风机电磁阀等设备的启停,避免人员危害或气体燃爆、设备损坏、环境污染等危害的产生。
 
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